испанско-швейцарский архитектор и скульптор, автор многих футуристических построек в разных странах мира. Его эстетику иногда определяют как «био-тек».

Santiago Calatrava (28 июля 1951)

773 × 865 — JPG 131.8 KB

Toegevoegd aan Льеж, он же Liege и Lüttich5 jaren geleden — 1574 weergaven

испанско-швейцарский архитектор и скульптор, автор многих футуристических построек в разных странах мира. Его эстетику иногда определяют как «био-тек».

NIKON CORPORATION NIKON D90 10/800s ƒ/80/10 ISO1600 280/10mm — Meer Exif data

  • Manufacturer NIKON CORPORATION
  • Model NIKON D90
  • Exposure Time 10/800s
  • Aperture ƒ/80/10
  • ISO 1600
  • Focal Length 280/10mm
  • X Resolution 300/1 dpi
  • Y Resolution 300/1 dpi
  • Resolution Unit inches
  • Color Space sRGB
  • Orientation Horizontal (normal)
  • Software Ver.1.00
  • Sensing Method One-chip color area
  • Scene Capture Type Standard
  • Gain Control High gain up
  • Exposure Bias Value 0/6
  • Max Aperture Value 40/10
  • Exposure Program Manual
  • Exposure Mode Manual
  • Metering Mode Multi-segment
  • Light Source Unknown
  • Flash On, Return detected
  • White Balance 1
  • Digital Zoom Ratio 1/1
  • Contrast Normal
  • Saturation Normal
  • Sharpness Hard
  • Exif Version 0221
  • Date Time Original 2010-04-20 20:33:43
  • Date Time Digitized 2010-04-20 20:33:43
JPG JPEG PNG BMP GIF WEBP MOV MP4 WEBM max 100 MB
Customize upload by clicking on any preview
Customize upload by touching on any preview
Uploading 0 files (0% afgerond)
De wachtrij wordt geupload, dit duurt een aantal seconden voordat het gereed is.
Upload voltooid
Geuploade afbeeldingen toegevoegd aan . U kunt create new album met de afbeeldingen die net zijn geupload.
Geuploade afbeeldingen toegevoegd aan .
U kunt create new album met de afbeeldingen die net zijn geupload. U moet Maak een account of Log in om de informatie op te slaan in uw account.
Geen file is geupload
Some errors have occurred and the system couldn't process your request.
    Note: Some files couldn't be uploaded. Meer informatie
    Zie het foutrapport voor meer informatie!